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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào)： SM-Ⅲ
用途和目的
SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀為塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的更新?lián)Q代產(chǎn)品，它利用光電機(jī)的一體化與計(jì)算機(jī)技術(shù)，提高塞曼實(shí)驗(yàn)儀的現(xiàn)代化程度。采用高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳感器，既可把塞曼效應(yīng)的干涉圖像在監(jiān)視器屏幕上顯示，又可通過圖像采集箱數(shù)字化由USB接口輸入微機(jī)，在微機(jī)顯示器上顯示圖像，通過精心編制的塞曼效應(yīng)分析軟件可從屏幕上測(cè)量干涉條紋直徑，進(jìn)而求出電子荷質(zhì)比和實(shí)驗(yàn)誤差，并可將結(jié)果及圖像輸出打印。
SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)
* 光源采用GGQ-20WHg筆形汞燈，譜線范圍400.0nm～577.0nm；
* 濾色片中心波長(zhǎng)：365.0nm；
* 實(shí)驗(yàn)誤差：≤5%；
* 與微機(jī)連接方式：USB2.0；
* 可實(shí)現(xiàn)塞曼效應(yīng)的干涉圖樣的快速采集與分析，節(jié)約實(shí)驗(yàn)時(shí)間；
* 直觀性好，可靠性好，圖像明亮清晰反差大，不用在暗室內(nèi)工作；
* 儀器調(diào)節(jié)方便、簡(jiǎn)捷、工作量小，減少了該實(shí)驗(yàn)的難度；
* 易于控制，便于自動(dòng)化處理；
* 可做縱向塞曼效應(yīng)的觀察；
* 磁場(chǎng)裝置為永jiu磁鐵，磁場(chǎng)強(qiáng)度高、體積小、重量輕，便于工作攜帶。
SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀
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